動態(tài)光散射納米粒度儀是采用的動態(tài)光散射的原理，簡單來說是通過測量納米顆粒的布朗運動導致的顆粒散射光的波動來實現(xiàn)粒徑的檢測?；驹硎牵盒☆w粒的布朗運動速度快使得散射光波動快；大顆粒的布朗運動速度慢導致散射光波動慢。光電探測器接收到散射光的波動信號，然后將信號輸送到儀器內(nèi)的相關器進行數(shù)據(jù)處理，然后而得到各項測試結果。儀器的兩大核心技術是：
 

　　1、準確檢測并記錄其微弱且快速變化的動態(tài)散射光信號。
 

　　2、根據(jù)動態(tài)散射光信號，經(jīng)過復雜的數(shù)學模型分析計算后準確的解析出相關的粒度數(shù)據(jù)。
 

　　動態(tài)光散射納米粒度儀的核心器件——光電探測器：
 

　　目前納米粒度儀主流的使用的探測器有兩種：一是PMT光電倍增管，二是雪崩光電探測器APD。PMT光電倍增管它是一種真空光電器件(真空管)。它的工作原理是建立在光電效應(光電發(fā)射)、二次電子發(fā)射、電子光學理論基礎上的。PMT光電倍增管已經(jīng)面世多年，其生產(chǎn)工藝及應用技術已經(jīng)非常成熟穩(wěn)定，但是已經(jīng)很難再有更上一層樓的技術進步。它要的優(yōu)點就是技術成熟，不足之處在于靈敏度稍低和背景電噪聲不穩(wěn)定。
 

　　利用載流子的雪崩倍增效應來放大光電信號以提高檢測的靈敏度。具備單光子探測能力，與已經(jīng)廣泛使用的光電倍增管(PMT)相比，APD具有全固態(tài)結構，量子效率高的特點，并可以在高增益下保持良好的信噪比。由于APD是工作在蓋革模式下，單個門控周期得到的是0和1組成的數(shù)字矩陣，對微弱光子信號的長時間積分不會引入熱噪聲，加之其信號的傳輸不需要經(jīng)過模數(shù)和數(shù)模轉換減少了隨機噪聲等誤差源。